Бургуэн Ж., Ланно М. Точечные дефекты в полупроводниках. Экспериментальные аспекты

Наш сервис сравнения цен ShopLiga.Ru - подбирает для вас самые лучшие и актуальные цены на товары от проверенных продавцов из различных регионов России. Предлагаемая продукция отличается высоким качеством, и пользуются большой популярностью. Мы стараемся поддерживать самые актуальные цены на товары, размещаем детальные технические характеристики, статьи с рекомендациями и отзывами покупателей о продукции и размещенных магазинах.

Бургуэн Ж., Ланно М. Точечные дефекты в полупроводниках. Экспериментальные аспекты - можно купить на официальном сайте нашего партнера ozon.ru. Также, на сайте доступно подробное описание и существует возможность ознакомиться с полным каталогом товаров. В интернет-магазине ozon.ru помогут оформить заказ и обсудят возможную доставку на дом.

Лучшая цена в магазине:

367 руб.

ПОСМОТРЕТЬ

Наличие на складеТоропитесь, товар заканчивается на складе!
Сегодня его купили 13 раз
Доставка Россия Самовывоз, курьерская доставка, почта России, EMS, ТК
Способы оплаты наличный расчет, безналичный расчет, Webmoney, Яндекс.Деньги

Цель данной книги, написанной французскими учеными, — анализ влияния точечных дефектов на различные физические свойства полупроводников. В книге рассматриваются эффект Яна — Теллера и электронный парамагнитный резонанс, вопросы генерации и рекомбинации носителей тока на примесных центрах. Предназначена для специалистов, работающих в области физики полупроводников, а также студентов и аспирантов соответствующих специальностей.